Новости

Jun 01, 2023

GBT получила уведомление о разрешении на проверку надежности микрочипа и автоматическое

Заявка на патент охватывает технологию ML-Driven для обнаружения и исправления

Заявка на патент охватывает технологию ML-Driven для обнаружения и исправления нарушений надежности микрочипов, особенно для передовых нанометровых узлов.

САН-ДИЕГО, 6 июня 2023 г. (GLOBE NEWSWIRE) – Компания GBT Technologies Inc. (OTC PINK: GTCHD) («GBT» или «Компания») получила уведомление о разрешении на проверку надежности своего микрочипа и электронную конструкцию с автокоррекцией. патентную заявку на автоматизацию (EDA), которой присвоено внутреннее кодовое название проекта Epsilon.

Поскольку объем производства интегральных схем (ИС) постоянно сокращается, проектные фирмы сталкиваются с широким спектром сложных задач в области электрической надежности, которые диктуются законами физики. Надежность микрочипа означает способность микросхемы точно и последовательно выполнять свои функции в течение всего срока службы. Он включает в себя способность чипа работать в пределах заданных параметров, без ухудшения качества или сбоя, в различных условиях окружающей среды и нагрузках. Высокопроизводительные вычислительные системы требуют оптимальных электрических и тепловых характеристик для обеспечения надежности и точности.

Усовершенствованные микросхемы являются ядром этих систем и должны работать с высоким уровнем надежности. В частности, в области медицины, авиации, транспорта, хранения данных и связи фактор надежности микрочипа стал решающим фактором. Решение проблемы надежности микрочипов становится особенно важным, поскольку масштаб микросхем уменьшается до нанометровых размеров. При меньших размерах элементов возникают более сложные проблемы с надежностью, включая электромиграцию, изменения процессов и другие.

Заявка на патент GBT Epsilon представляет инновационную технологию, направленную на решение передовых физических задач полупроводниковых узлов, обеспечивающих высокий уровень надежности, оптимальную тепловую конструкцию, более низкое энергопотребление и высокую производительность. Описанная технология включает в себя алгоритмы машинного обучения, обеспечивающие надежное проектирование, оптимизацию процессов, определение характеристик, моделирование и симуляцию. Технология, лежащая в основе патентной заявки, выявляет недостатки надежности, описывает обнаруженные проблемы и позволяет автоматически исправлять эти проблемы надежности еще на этапе проектирования ИС.

Методы машинного обучения будут выполнять анализ данных, идентификацию, категоризацию и рассуждения о выполнении оптимальной автоматической коррекции компоновки микросхем. Целью технологии является предоставление разработчикам ИС возможности анализировать и исправлять схемы на ранних стадиях проектирования, с более высокой эффективностью и в режиме реального времени. Ожидается, что патент будет выдан в ближайшие месяцы. GBT планирует продолжать свои исследования и разработки в этой области, изобретая современные технологии, позволяющие создавать надежные, маломощные и высокопроизводительные микрочипы следующего поколения.

«Мы рады сообщить о разрешении на наш патент Epsilon. Цель этого патента — выполнить электрический и энергетический анализ микрочипа на ранних этапах проектирования, выявить потенциальные сбои и оперативно предоставить решение. Планируется, что технология будет основана на алгоритмах машинного обучения GBT для распознавания образов и обширного анализа данных, особенно для передовых производственных узлов, таких как 3-нм и ниже. Благодаря современным передовым узлам нанометрового размера способность анализировать и учитывать параметры надежности стала решающей для снижения риска деградации системы, перегрева и возможных неисправностей. Наша технология Epsilon представляет собой интеллектуальное программное решение EDA для повышения производительности проектирования, целью которого является анализ, обнаружение и устранение на лету проблем с электрической надежностью, что позволяет разработчикам микросхем держать руку на пульсе надежности всего микрочипа, управления питанием, теплового поведения и общей производительности. Надежность микрочипов — сложная и развивающаяся область, и мы планируем продолжать наши текущие исследования и разработки для решения возникающих проблем, связанных с сокращением масштабов нанотехнологий», — заявил Дэнни Риттман, технический директор компании.